分光器以及具备该分光器的发射光谱分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480082674.9

申请日：

2014-10-14

公开(公告)号：

CN107076612A

公开(公告)日：

2017-08-18

发明(设计)人：

小林央祐

申请人：

申请人地址：

日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地

IPC主分类号：

G01J3443

IPC分类号：

G01N2167

代理机构：

上海华诚知识产权代理有限公司 31300

代理人：

肖华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101747173140 IPC(主分类):G01J 3/443 专利申请号:2014800826749 申请日:20141014
2017-08-18	公开	公开
2019-12-20	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 3/443 申请公布日:20170818

共 50 条

[1]

发射光谱分析装置 [P].

贝发达也 .

中国专利 :CN108469431B ,2018-08-31

[2]

原子发射光谱激发源及其原子发射光谱分析装置 [P].

蒋小明 ;

侯贤灯 ;

何林 ;

吴鹏 .

中国专利 :CN212059915U ,2020-12-01

[3]

样品发射光谱分析的方法和装置 [P].

福井勳 ;

林修三 ;

深山隆男 .

中国专利 :CN1033418A ,1989-06-14

[4]

用于光学发射光谱分析的装置和方法 [P].

弗朗索瓦·樊尚 ;

让-皮埃尔·索拉 ;

吉尔伯特·乌塞里希 .

中国专利 :CN102301594A ,2011-12-28

[5]

台式光电直读发射光谱分析仪 [P].

顾德安 ;

顾惠惠 .

中国专利 :CN302911239S ,2014-08-13

[6]

铜冶炼过程发射光谱分析系统的导入光学装置 [P].

吴华峰 ;

高闽光 ;

王锋平 ;

张玉钧 ;

李相贤 ;

刘文清 ;

常国涛 ;

宋修明 ;

吴文明 .

中国专利 :CN203573019U ,2014-04-30

[7]

铜冶炼过程发射光谱分析系统的导入光学装置 [P].

吴华峰 ;

高闽光 ;

王锋平 ;

张玉钧 ;

李相贤 ;

刘文清 ;

常国涛 ;

宋修明 ;

吴文明 .

中国专利 :CN103558680A ,2014-02-05

[8]

铪酸镧中杂质的发射光谱分析方法 [P].

钱伯仁 ;

王长华 ;

潘元海 ;

墨淑敏 .

中国专利 :CN101769861A ,2010-07-07

[9]

落地式光电直读发射光谱分析仪 [P].

顾德安 ;

顾惠惠 .

中国专利 :CN302908486S ,2014-08-13

[10]

基于中空电极尖端放电的原子发射光谱分析检测装置 [P].

蒋小明 ;

侯贤灯 ;

李萌甜 .

中国专利 :CN109270049A ,2019-01-25

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