铜冶炼过程发射光谱分析系统的导入光学装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320686772.6

申请日：

2013-11-01

公开(公告)号：

CN203573019U

公开(公告)日：

2014-04-30

发明(设计)人：

吴华峰高闽光王锋平张玉钧李相贤刘文清常国涛宋修明吴文明

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区天智路23号

IPC主分类号：

G02B1702

IPC分类号：

G01N2125

代理机构：

合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109

代理人：

汤茂盛

法律状态：

避免重复授权放弃专利权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-30	避免重复授权放弃专利权	避免重复授权放弃专利权号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101721482733 IPC(主分类):G02B 17/02 专利号:ZL2013206867726 申请日:20131101 授权公告日:20140430 放弃生效日:20150930
2014-04-30	授权	授权

共 50 条

[1]

铜冶炼过程发射光谱分析系统的导入光学装置 [P].

吴华峰 ;

高闽光 ;

王锋平 ;

张玉钧 ;

李相贤 ;

刘文清 ;

常国涛 ;

宋修明 ;

吴文明 .

中国专利 :CN103558680A ,2014-02-05

[2]

发射光谱分析装置 [P].

贝发达也 .

中国专利 :CN108469431B ,2018-08-31

[3]

用于光学发射光谱分析的装置和方法 [P].

弗朗索瓦·樊尚 ;

让-皮埃尔·索拉 ;

吉尔伯特·乌塞里希 .

中国专利 :CN102301594A ,2011-12-28

[4]

样品发射光谱分析的方法和装置 [P].

福井勳 ;

林修三 ;

深山隆男 .

中国专利 :CN1033418A ,1989-06-14

[5]

原子发射光谱激发源及其原子发射光谱分析装置 [P].

蒋小明 ;

侯贤灯 ;

何林 ;

吴鹏 .

中国专利 :CN212059915U ,2020-12-01

[6]

台式光电直读发射光谱分析仪 [P].

顾德安 ;

顾惠惠 .

中国专利 :CN302911239S ,2014-08-13

[7]

铪酸镧中杂质的发射光谱分析方法 [P].

钱伯仁 ;

王长华 ;

潘元海 ;

墨淑敏 .

中国专利 :CN101769861A ,2010-07-07

[8]

落地式光电直读发射光谱分析仪 [P].

顾德安 ;

顾惠惠 .

中国专利 :CN302908486S ,2014-08-13

[9]

微波等离子体发射光谱分析仪 [P].

刘树铁 ;

金钦汉 ;

张寒琦 ;

朱起辉 .

中国专利 :CN2081978U ,1991-07-31

[10]

分光器以及具备该分光器的发射光谱分析装置 [P].

小林央祐 .

中国专利 :CN107076612A ,2017-08-18

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