光学各向异性参数测定装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200710152861.1
申请日
2007-09-18
公开(公告)号
CN101153965B
公开(公告)日
2008-04-02
发明(设计)人
田冈大辅
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G02F113
IPC分类号
G01M1100
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
王永刚
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
光学各向异性参数测定方法及测定装置 [P]. 
田冈大辅 .
中国专利 :CN101666926A ,2010-03-10
[2]
光学各向异性参数测定方法及测定装置 [P]. 
田之冈大辅 .
中国专利 :CN100570310C ,2006-10-18
[3]
光学各向异性参数测定装置、测定方法以及测定用程序 [P]. 
田之冈大辅 .
中国专利 :CN104280211A ,2015-01-14
[4]
光学各向异性膜 [P]. 
李圣经 ;
柳东雨 ;
全成浩 ;
崔大胜 .
中国专利 :CN104583848B ,2015-04-29
[5]
光学各向异性膜 [P]. 
小林忠弘 .
中国专利 :CN104808275B ,2015-07-29
[6]
光学各向异性片 [P]. 
幡中伸行 ;
小林忠弘 ;
横田明 ;
葛西辰昌 .
中国专利 :CN104345373A ,2015-02-11
[7]
光学各向异性膜 [P]. 
小林忠弘 ;
小山敦畅 ;
藤谷匠 .
中国专利 :CN104698523A ,2015-06-10
[8]
光学各向异性膜 [P]. 
乾奈绪子 ;
幡中伸行 ;
葛西辰昌 .
中国专利 :CN111954836A ,2020-11-17
[9]
光学各向异性膜 [P]. 
村野耕太 ;
幡中伸行 ;
唐泽真义 .
中国专利 :CN111417879B ,2020-07-14
[10]
光学各向异性层、光学各向异性层的制造方法 [P]. 
小玉启祐 ;
中西启介 ;
加藤峻也 .
日本专利 :CN120418698A ,2025-08-01