光学各向异性参数测定方法及测定装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200910159390.6
申请日
2009-07-15
公开(公告)号
CN101666926A
公开(公告)日
2010-03-10
发明(设计)人
田冈大辅
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G02F113
IPC分类号
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
许海兰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
光学各向异性参数测定方法及测定装置 [P]. 
田之冈大辅 .
中国专利 :CN100570310C ,2006-10-18
[2]
光学各向异性参数测定装置 [P]. 
田冈大辅 .
中国专利 :CN101153965B ,2008-04-02
[3]
光学各向异性参数测定装置、测定方法以及测定用程序 [P]. 
田之冈大辅 .
中国专利 :CN104280211A ,2015-01-14
[4]
一种岩石地下原位多参数各向异性测定装置 [P]. 
郑军 ;
孙振介 ;
王可可 ;
刘鸿博 .
中国专利 :CN108387499A ,2018-08-10
[5]
岩石渗透性能各向异性测定装置和方法 [P]. 
鲍云杰 ;
杨振恒 ;
邓模 ;
翟常博 ;
李志明 .
中国专利 :CN110514568A ,2019-11-29
[6]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
近藤房宣 ;
岩田直树 ;
松村朋和 ;
竹下照雄 .
中国专利 :CN115398210A ,2022-11-25
[7]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
近藤房宣 ;
岩田直树 ;
松村朋和 ;
竹下照雄 .
日本专利 :CN115398210B ,2025-11-07
[8]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
竹下照雄 ;
松村朋和 ;
近藤房宣 ;
岩田直树 .
中国专利 :CN112912715A ,2021-06-04
[9]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
岩田直树 ;
近藤房宣 ;
松村朋和 ;
竹下照雄 .
中国专利 :CN115380204A ,2022-11-22
[10]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
竹下照雄 ;
松村朋和 ;
近藤房宣 ;
岩田直树 .
日本专利 :CN112912715B ,2024-08-09