光学测定装置及光学测定方法

被引:0
申请号
CN202180026082.5
申请日
2021-01-21
公开(公告)号
CN115398210A
公开(公告)日
2022-11-25
发明(设计)人
近藤房宣 岩田直树 松村朋和 竹下照雄
申请人
申请人地址
日本静冈县
IPC主分类号
G01N2164
IPC分类号
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
杨琦
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
近藤房宣 ;
岩田直树 ;
松村朋和 ;
竹下照雄 .
日本专利 :CN115398210B ,2025-11-07
[2]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
竹下照雄 ;
松村朋和 ;
近藤房宣 ;
岩田直树 .
中国专利 :CN112912715A ,2021-06-04
[3]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
岩田直树 ;
近藤房宣 ;
松村朋和 ;
竹下照雄 .
中国专利 :CN115380204A ,2022-11-22
[4]
光学测定装置及光学测定方法 [P]. 
竹下照雄 ;
松村朋和 ;
近藤房宣 ;
岩田直树 .
日本专利 :CN112912715B ,2024-08-09
[5]
光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序 [P]. 
稻也大辅 .
中国专利 :CN113390353A ,2021-09-14
[6]
光学测定装置、光学测定方法 [P]. 
庭山雅嗣 .
中国专利 :CN101454654B ,2009-06-10
[7]
光学测定装置、光学测定系统以及光学测定方法 [P]. 
小川润一 .
日本专利 :CN119096134A ,2024-12-06
[8]
光学测定装置以及光学测定方法 [P]. 
新家俊辉 ;
川口史朗 ;
井上展幸 .
中国专利 :CN110500963B ,2019-11-26
[9]
光学测定装置和光学测定方法 [P]. 
森田元喜 ;
河野景吾 ;
须须木大地 ;
近藤房宣 .
中国专利 :CN115335699A ,2022-11-11
[10]
光学测定方法以及光学测定装置 [P]. 
井上展幸 ;
永嶌拓 .
中国专利 :CN107806898A ,2018-03-16