光学测定方法以及光学测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710807755.6

申请日：

2017-09-08

公开(公告)号：

CN107806898A

公开(公告)日：

2018-03-16

发明(设计)人：

井上展幸永嶌拓

申请人：

申请人地址：

日本大阪府枚方市

IPC主分类号：

G01D2102

IPC分类号：

G01D3036

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

吕琳;朴秀玉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-16	公开	公开
2021-10-29	授权	授权
2019-08-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 21/02 申请日:20170908

共 50 条

[1]

光学测定装置以及光学测定方法 [P].

新家俊辉 ;

川口史朗 ;

井上展幸 .

中国专利 :CN110500963B ,2019-11-26

[2]

光学测定装置以及光学测定方法 [P].

水口勉 .

中国专利 :CN106304845A ,2017-01-04

[3]

光学测定装置以及光学测定方法 [P].

泉谷悠介 ;

若山育央 .

中国专利 :CN109211741B ,2019-01-15

[4]

光学测定装置、光学测定系统以及光学测定方法 [P].

小川润一 .

日本专利 :CN119096134A ,2024-12-06

[5]

光学测定装置、光学测定方法 [P].

庭山雅嗣 .

中国专利 :CN101454654B ,2009-06-10

[6]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

鹤谷克敏 .

中国专利 :CN106461465A ,2017-02-22

[7]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

冈本宗大 ;

佐佐木勇贵 ;

罗先钦 .

中国专利 :CN108204788B ,2018-06-26

[8]

光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置 [P].

中岛一八 ;

野口宗裕 .

中国专利 :CN112798105A ,2021-05-14

[9]

光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置 [P].

中岛一八 ;

野口宗裕 .

日本专利 :CN112798105B ,2025-03-21

[10]

光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序 [P].

稻也大辅 .

中国专利 :CN113390353A ,2021-09-14

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