光学测定装置和光学测定方法

被引：0

申请号：

CN202180022995.X

申请日：

2021-03-23

公开(公告)号：

CN115335699A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

森田元喜河野景吾须须木大地近藤房宣

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N33483

IPC分类号：

G01N33543 G01N2127

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 33/483 申请日:20210323
2022-11-11	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测定装置和光学测定方法 [P].

后藤健次 ;

山田英明 .

中国专利 :CN103226094A ,2013-07-31

[2]

光学测定装置、光学测定方法 [P].

庭山雅嗣 .

中国专利 :CN101454654B ,2009-06-10

[3]

光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序 [P].

稻也大辅 .

中国专利 :CN113390353A ,2021-09-14

[4]

光学测定装置、光学测定系统以及光学测定方法 [P].

小川润一 .

日本专利 :CN119096134A ,2024-12-06

[5]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

近藤房宣 ;

岩田直树 ;

松村朋和 ;

竹下照雄 .

中国专利 :CN115398210A ,2022-11-25

[6]

光学测定装置以及光学测定方法 [P].

新家俊辉 ;

川口史朗 ;

井上展幸 .

中国专利 :CN110500963B ,2019-11-26

[7]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

近藤房宣 ;

岩田直树 ;

松村朋和 ;

竹下照雄 .

日本专利 :CN115398210B ,2025-11-07

[8]

光学特性测定装置和光学特性测定方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN109642868B ,2019-04-16

[9]

光学测定方法以及光学测定装置 [P].

井上展幸 ;

永嶌拓 .

中国专利 :CN107806898A ,2018-03-16

[10]

光学测定装置以及光学测定方法 [P].

水口勉 .

中国专利 :CN106304845A ,2017-01-04

← 1 2 3 4 5 →