一种接触电阻测试结构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621353554.0

申请日：

2016-12-09

公开(公告)号：

CN206258520U

公开(公告)日：

2017-06-16

发明(设计)人：

李勇

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区经济技术开发区（亦庄）文昌大道18号

IPC主分类号：

G01R2714

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所 31219

代理人：

王华英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-16	授权	授权

共 50 条

[1]

接触电阻测试结构 [P].

李勇 .

中国专利 :CN206349362U ,2017-07-21

[2]

一种接触电阻的测试结构 [P].

刘英明 .

中国专利 :CN204102867U ,2015-01-14

[3]

一种测试接触电阻的探头结构 [P].

杨丽雯 ;

薛军扬 ;

杨畅 ;

张海涛 .

中国专利 :CN221281073U ,2024-07-05

[4]

一种TOPCon钝化接触结构接触电阻的测试结构 [P].

林文杰 ;

邱开富 ;

王永谦 ;

陈刚 .

中国专利 :CN217425526U ,2022-09-13

[5]

一种接触孔接触电阻测试结构 [P].

张婷 ;

杨作东 ;

彭翔 ;

唐小亮 ;

王奇伟 .

中国专利 :CN114899117A ,2022-08-12

[6]

一种接触电阻测试设备 [P].

张建峰 ;

朱明 ;

江震 ;

陆建 .

中国专利 :CN214703781U ,2021-11-12

[7]

一种接触电阻测试系统 [P].

韩治昀 ;

魏科科 ;

付宇 .

中国专利 :CN217112507U ,2022-08-02

[8]

一种接触电阻测试机 [P].

朱四辈 ;

王瑞 ;

韩梦媛 ;

仇相文 ;

王雯 ;

杜祥云 .

中国专利 :CN214669323U ,2021-11-09

[9]

一种接触电阻测试夹 [P].

豆河伟 ;

侯玉国 .

中国专利 :CN211741350U ,2020-10-23

[10]

接触电阻的测试结构及器件电阻的测试结构 [P].

许广勤 .

中国专利 :CN205720446U ,2016-11-23

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