一种TOPCon钝化接触结构接触电阻的测试结构

被引：0

申请号：

CN202221059392.5

申请日：

2022-04-29

公开(公告)号：

CN217425526U

公开(公告)日：

2022-09-13

发明(设计)人：

林文杰邱开富王永谦陈刚

申请人：

申请人地址：

322000 浙江省金华市义乌市苏溪镇好派路655号

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

H01L23544

代理机构：

深圳盛德大业知识产权代理事务所(普通合伙) 44333

代理人：

张红伟

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种钝化接触的接触电阻测试结构的制备工艺及测试结构 [P].

林文杰 ;

邱开富 ;

倪文虎 ;

吴宜尚 ;

王永谦 ;

陈刚 .

中国专利 :CN114823980A ,2022-07-29

[2]

一种钝化接触的接触电阻测试结构的制备工艺及测试结构 [P].

林文杰 ;

邱开富 ;

倪文虎 ;

吴宜尚 ;

王永谦 ;

陈刚 .

中国专利 :CN114823980B ,2024-07-30

[3]

一种接触电阻测试设备 [P].

张建峰 ;

朱明 ;

江震 ;

陆建 .

中国专利 :CN214703781U ,2021-11-12

[4]

接触电阻测试结构 [P].

李勇 .

中国专利 :CN206349362U ,2017-07-21

[5]

接触电阻的测试方法 [P].

徐业 ;

殷丽 ;

齐莲莲 ;

邓陈 ;

夏锐 ;

刘振坤 ;

张学玲 .

中国专利 :CN121208446A ,2025-12-26

[6]

一种改善TOPCon电池背面钝化接触结构的方法 [P].

吴成坤 ;

杨阳 ;

陈如龙 ;

乐雄英 ;

李华正 .

中国专利 :CN117352589A ,2024-01-05

[7]

一种改善TOPCon电池背面钝化接触结构的方法 [P].

吴成坤 ;

杨阳 ;

陈如龙 ;

乐雄英 ;

李华正 .

中国专利 :CN117352589B ,2024-03-26

[8]

一种接触电阻测试结构 [P].

李勇 .

中国专利 :CN206258520U ,2017-06-16

[9]

一种接触电阻的测试结构 [P].

刘英明 .

中国专利 :CN204102867U ,2015-01-14

[10]

一种新型的钝化接触电池的电极结构 [P].

王芹芹 ;

瞿辉 ;

曹玉甲 .

中国专利 :CN214753789U ,2021-11-16

← 1 2 3 4 5 →