电子设备的测试系统及测试方法

被引：0

申请号：

CN202210707180.1

申请日：

2022-06-21

公开(公告)号：

CN115333647A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

方冠臻

申请人：

申请人地址：

310013 浙江省杭州市西湖区浙商财富中心3幢701室

IPC主分类号：

H04B1700

IPC分类号：

H04W2408

代理机构：

广东君龙律师事务所 44470

代理人：

丁建春

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	公开	公开
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/00 申请日:20220621

共 50 条

[1]

电子设备的测试系统及测试方法 [P].

方冠臻 .

中国专利 :CN115333647B ,2025-02-21

[2]

电子设备的测试系统及测试方法 [P].

杨振西 ;

吴安华 .

中国专利 :CN104506854B ,2015-04-08

[3]

测试系统、测试信号发送方法、电子设备及存储介质 [P].

朱曹振 ;

盛伯瑶 .

中国专利 :CN117665535A ,2024-03-08

[4]

测试系统、测试方法和电子设备 [P].

方友平 ;

唐相伟 ;

孙炎军 ;

郑弘佑 .

中国专利 :CN119224444A ,2024-12-31

[5]

测试系统、测试方法、芯片及电子设备 [P].

陈立志 .

中国专利 :CN119716462A ,2025-03-28

[6]

接线测试方法、测试系统及电子设备 [P].

王业文 ;

林创伟 .

中国专利 :CN120385956A ,2025-07-29

[7]

电子设备测试系统 [P].

陈俊生 ;

王振声 .

中国专利 :CN105588988A ,2016-05-18

[8]

测试方法及装置、测试系统、电子设备 [P].

韩培源 ;

束涛 ;

朱能勇 ;

牛欢欢 ;

刘晓明 .

中国专利 :CN114138677A ,2022-03-04

[9]

测试方法及装置、测试系统、电子设备 [P].

韩培源 ;

束涛 ;

朱能勇 ;

牛欢欢 ;

刘晓明 .

中国专利 :CN114138677B ,2024-07-02

[10]

电子设备的测试系统及方法 [P].

郭立柱 .

中国专利 :CN118641858A ,2024-09-13

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