测试方法及装置、测试系统、电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111603400.8

申请日：

2021-12-24

公开(公告)号：

CN114138677B

公开(公告)日：

2024-07-02

发明(设计)人：

韩培源束涛朱能勇牛欢欢刘晓明

申请人：

北京华大九天科技股份有限公司

申请人地址：

100102 北京市朝阳区利泽中二路2号A座2层

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京红花知识产权代理事务所(普通合伙) 16030

代理人：

林乐飞

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-02	授权	授权

共 50 条

[1]

测试方法及装置、测试系统、电子设备 [P].

韩培源 ;

束涛 ;

朱能勇 ;

牛欢欢 ;

刘晓明 .

中国专利 :CN114138677A ,2022-03-04

[2]

电子设备的测试方法、测试服务器及测试系统 [P].

徐久存 ;

谈正军 ;

王智慧 .

中国专利 :CN111124783A ,2020-05-08

[3]

测试方法、测试系统、电子设备以及存储介质 [P].

王彬 .

中国专利 :CN117723323A ,2024-03-19

[4]

电子设备测试系统及其测试方法 [P].

翁世芳 ;

陆欣 ;

刘耀华 ;

许忠林 .

中国专利 :CN102905034A ,2013-01-30

[5]

测试系统、测试方法和电子设备 [P].

方友平 ;

唐相伟 ;

孙炎军 ;

郑弘佑 .

中国专利 :CN119224444A ,2024-12-31

[6]

电子设备的测试系统及测试方法 [P].

方冠臻 .

中国专利 :CN115333647A ,2022-11-11

[7]

测试系统、测试方法、芯片及电子设备 [P].

陈立志 .

中国专利 :CN119716462A ,2025-03-28

[8]

接线测试方法、测试系统及电子设备 [P].

王业文 ;

林创伟 .

中国专利 :CN120385956A ,2025-07-29

[9]

电子设备的测试系统及测试方法 [P].

杨振西 ;

吴安华 .

中国专利 :CN104506854B ,2015-04-08

[10]

电子设备的测试系统及测试方法 [P].

方冠臻 .

中国专利 :CN115333647B ,2025-02-21

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