光学元件亚表面缺陷数字全息检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110440846.3

申请日：

2011-12-26

公开(公告)号：

CN102519976A

公开(公告)日：

2012-06-27

发明(设计)人：

于瀛洁伍小燕涂桥王驰

申请人：

申请人地址：

200444 上海市宝山区上大路99号

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2145

代理机构：

上海上大专利事务所(普通合伙) 31205

代理人：

何文欣

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-06-27	公开	公开
2014-03-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101697206788 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2011104408463 申请公布日:20120627
2012-09-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101320546344 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2011104408463 申请日:20111226

共 50 条

[1]

光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN201697882U ,2011-01-05

[2]

光学元件亚表面缺陷的检测装置及其方法 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN101819163A ,2010-09-01

[3]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN212059867U ,2020-12-01

[4]

大口径光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

邓燕 ;

许乔 ;

柴立群 ;

石琦凯 .

中国专利 :CN201589753U ,2010-09-22

[5]

透明光学元件表面缺陷的检测装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

吴令奇 ;

黄明 .

中国专利 :CN203069531U ,2013-07-17

[6]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置和检测方法 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN111208064A ,2020-05-29

[7]

光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法 [P].

张霖 ;

许乔 ;

石振东 ;

陈坚 ;

马骅 ;

马可 ;

白金玺 ;

李杰 ;

柴立群 ;

赵建华 ;

黄明 .

中国专利 :CN111060516A ,2020-04-24

[8]

快速三维探测光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

刘红婕 ;

王凤蕊 ;

耿峰 ;

叶鑫 ;

黄进 ;

孙来喜 ;

黎维华 ;

罗青 ;

李青芝 .

中国专利 :CN206348270U ,2017-07-21

[9]

一种用于光学元件亚表面缺陷检测的装置及方法 [P].

孙安玉 ;

钟皓泽 ;

居冰峰 ;

管凯敏 ;

杨筱钰 ;

陈远流 ;

朱吴乐 .

中国专利 :CN113607750B ,2021-11-05

[10]

一种光学元件表面缺陷检测装置 [P].

裴宁 ;

王大森 ;

聂凤明 ;

张旭 ;

夏超翔 ;

黄思玲 ;

李晓静 ;

郭海林 ;

赵仕燕 ;

范爱国 ;

王雷 ;

李维杰 .

中国专利 :CN114689596A ,2022-07-01

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