银行安全芯片自动化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720273894.0

申请日：

2017-03-21

公开(公告)号：

CN206804822U

公开(公告)日：

2017-12-26

发明(设计)人：

禹乾勋赵勇

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道黄田杨贝工业区一期第1、3、4、5、7栋(第4栋3楼)

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

B07C536

代理机构：

深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324

代理人：

周松强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-26	授权	授权
2019-09-03	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/317 登记生效日:20190815 变更事项:专利权人变更前权利人:深圳市华宇半导体有限公司变更后权利人:深圳市华力宇电子科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市宝安区西乡街道黄田杨贝工业区一期第1、3、4、5、7栋(第4栋3楼) 变更后权利人:518000 广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402

共 50 条

[1]

银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法 [P].

禹乾勋 ;

赵勇 .

中国专利 :CN108627764A ,2018-10-09

[2]

TPM安全芯片自动化测试系统及方法 [P].

王丽云 .

中国专利 :CN106155856A ,2016-11-23

[3]

智能手机自动感光芯片自动化测试系统 [P].

禹乾勋 ;

赵勇 .

中国专利 :CN206897883U ,2018-01-19

[4]

芯片自动化测试系统 [P].

孙马秋 ;

王晓玲 ;

杨芬 .

中国专利 :CN105334448A ,2016-02-17

[5]

VPX自动化测试系统 [P].

琚炎松 .

中国专利 :CN204613930U ,2015-09-02

[6]

芯片的GPIO的自动化测试系统 [P].

杨燕平 ;

刘志强 .

中国专利 :CN211426704U ,2020-09-04

[7]

自动化测试系统 [P].

宁晓富 ;

王颖 ;

陈维鑫 ;

韩毅 ;

单宏寅 .

中国专利 :CN213213488U ,2021-05-14

[8]

自动化测试系统 [P].

陈冬冬 .

中国专利 :CN212569021U ,2021-02-19

[9]

自动化测试系统 [P].

王瀚威 ;

刘容光 .

中国专利 :CN203745570U ,2014-07-30

[10]

自动化测试系统 [P].

王磊 .

中国专利 :CN207008001U ,2018-02-13

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