TPM安全芯片自动化测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510188430.5

申请日：

2015-04-21

公开(公告)号：

CN106155856A

公开(公告)日：

2016-11-23

发明(设计)人：

王丽云

申请人：

申请人地址：

215300 江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101692514089 IPC(主分类):G06F 11/26 专利申请号:2015101884305 申请日:20150421
2021-10-29	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F 11/26 申请公布日:20161123
2016-11-23	公开	公开

共 50 条

[1]

银行安全芯片自动化测试系统 [P].

禹乾勋 ;

赵勇 .

中国专利 :CN206804822U ,2017-12-26

[2]

银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法 [P].

禹乾勋 ;

赵勇 .

中国专利 :CN108627764A ,2018-10-09

[3]

芯片自动化测试系统 [P].

孙马秋 ;

王晓玲 ;

杨芬 .

中国专利 :CN105334448A ,2016-02-17

[4]

自动化测试系统及自动化测试方法 [P].

陈飞腾 .

中国专利 :CN102710454A ,2012-10-03

[5]

自动化测试系统及自动化测试方法 [P].

周波 ;

潘奎宇 ;

邱晓纯 ;

王潇冰 .

中国专利 :CN115658528A ,2023-01-31

[6]

自动化测试方法及自动化测试系统 [P].

谷颖 .

中国专利 :CN105550088A ,2016-05-04

[7]

射频芯片的自动化测试系统及测试方法 [P].

陈超 .

中国专利 :CN118330426A ,2024-07-12

[8]

芯片静态工作自动化测试系统及方法 [P].

朱珂 ;

王永胜 ;

王盼 ;

刘长江 ;

毛英杰 .

中国专利 :CN114487768A ,2022-05-13

[9]

芯片ADC性能自动化测试系统及方法 [P].

张瀚文 ;

戴昭君 ;

段松涛 .

中国专利 :CN109143034A ,2019-01-04

[10]

芯片自动化测试系统、方法及存储介质 [P].

孔康 ;

戴佳 ;

薛颖 .

中国专利 :CN115629295A ,2023-01-20

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