芯片静态工作自动化测试系统及方法

被引：0

申请号：

CN202111645802.4

申请日：

2021-12-30

公开(公告)号：

CN114487768A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

朱珂王永胜王盼刘长江毛英杰

申请人：

申请人地址：

300457 天津市滨海新区经济技术开发区滨海-中关村科技园泉州道3号北塘建设发展大厦B座215室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京植德律师事务所 11780

代理人：

唐华东

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-13	公开	公开
2022-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211230

共 50 条

[1]

芯片自动化测试系统、方法及存储介质 [P].

孔康 ;

戴佳 ;

薛颖 .

中国专利 :CN115629295A ,2023-01-20

[2]

芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备 [P].

许团辉 ;

朴英珲 ;

崔昌明 .

中国专利 :CN118314944A ,2024-07-09

[3]

芯片自动化测试系统 [P].

孙马秋 ;

王晓玲 ;

杨芬 .

中国专利 :CN105334448A ,2016-02-17

[4]

一种芯片自动化测试系统及方法 [P].

于长亮 ;

林正华 ;

田野 ;

王鹏飞 .

中国专利 :CN120254570A ,2025-07-04

[5]

自动化测试系统及自动化测试方法 [P].

陈飞腾 .

中国专利 :CN102710454A ,2012-10-03

[6]

自动化测试系统及自动化测试方法 [P].

周波 ;

潘奎宇 ;

邱晓纯 ;

王潇冰 .

中国专利 :CN115658528A ,2023-01-31

[7]

自动化测试方法及自动化测试系统 [P].

谷颖 .

中国专利 :CN105550088A ,2016-05-04

[8]

射频芯片的自动化测试系统及测试方法 [P].

陈超 .

中国专利 :CN118330426A ,2024-07-12

[9]

TPM安全芯片自动化测试系统及方法 [P].

王丽云 .

中国专利 :CN106155856A ,2016-11-23

[10]

芯片ADC性能自动化测试系统及方法 [P].

张瀚文 ;

戴昭君 ;

段松涛 .

中国专利 :CN109143034A ,2019-01-04

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