质量分析装置和质量分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810788044.3

申请日：

2018-07-18

公开(公告)号：

CN109283220A

公开(公告)日：

2019-01-29

发明(设计)人：

广瀬龙介秋山秀之坂井范昭

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2520

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

黄纶伟;孙明浩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-29	公开	公开
2020-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20180718

共 50 条

[1]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

内藤康秀 ;

小谷政弘 ;

大村孝幸 .

中国专利 :CN110383056B ,2019-10-25

[2]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

小谷政弘 ;

大村孝幸 .

中国专利 :CN111095478B ,2020-05-01

[3]

质量分析方法和质量分析装置 [P].

广濑龙介 ;

秋山秀之 ;

坂井范昭 .

日本专利 :CN115769070B ,2025-09-30

[4]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

佐久田昌博 ;

大川真 ;

的场吉毅 .

中国专利 :CN109283265A ,2019-01-29

[5]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 ;

长谷川英树 ;

和气泉 ;

杉山益之 .

中国专利 :CN101188183A ,2008-05-28

[6]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

佐久田昌博 .

中国专利 :CN109283238A ,2019-01-29

[7]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

佐久田昌博 ;

的场吉毅 .

中国专利 :CN110031582A ,2019-07-19

[8]

质量分析装置以及质量分析方法 [P].

影山辽 ;

内田刚史 ;

西口克 ;

下村学 .

日本专利 :CN113412532B ,2024-08-23

[9]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 .

中国专利 :CN112514028A ,2021-03-16

[10]

质量分析装置以及质量分析方法 [P].

田川雄介 ;

石川勇树 .

日本专利 :CN113711025B ,2024-05-24

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