质量分析方法和质量分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080102602.1

申请日：

2020-07-17

公开(公告)号：

CN115769070B

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

广濑龙介秋山秀之坂井范昭

申请人：

株式会社日立高新技术

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N27/62

IPC分类号：

G01N27/626 G01N27/68 G01N30/64 G01N30/72

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

俞丹;宋俊寅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	授权	授权

共 50 条

[1]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

内藤康秀 ;

小谷政弘 ;

大村孝幸 .

中国专利 :CN110383056B ,2019-10-25

[2]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

小谷政弘 ;

大村孝幸 .

中国专利 :CN111095478B ,2020-05-01

[3]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

佐久田昌博 ;

大川真 ;

的场吉毅 .

中国专利 :CN109283265A ,2019-01-29

[4]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 ;

长谷川英树 ;

和气泉 ;

杉山益之 .

中国专利 :CN101188183A ,2008-05-28

[5]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

佐久田昌博 .

中国专利 :CN109283238A ,2019-01-29

[6]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

佐久田昌博 ;

的场吉毅 .

中国专利 :CN110031582A ,2019-07-19

[7]

质量分析装置和质量分析方法 [P].

广瀬龙介 ;

秋山秀之 ;

坂井范昭 .

中国专利 :CN109283220A ,2019-01-29

[8]

质量分析装置以及质量分析方法 [P].

影山辽 ;

内田刚史 ;

西口克 ;

下村学 .

日本专利 :CN113412532B ,2024-08-23

[9]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 .

中国专利 :CN112514028A ,2021-03-16

[10]

质量分析装置以及质量分析方法 [P].

田川雄介 ;

石川勇树 .

日本专利 :CN113711025B ,2024-05-24

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