一种集成电路开短路测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220352688.6

申请日：

2012-07-20

公开(公告)号：

CN202794413U

公开(公告)日：

2013-03-13

发明(设计)人：

李卫国杨富征谭永良

申请人：

申请人地址：

529100 广东省江门市新会区会城镇城东区石家庄

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

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法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-03-13	授权	授权
2021-07-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20120720 授权公告日:20130313 终止日期:20200720

共 50 条

[1]

一种集成电路开短路测试设备 [P].

焦源 .

中国专利 :CN215641667U ,2022-01-25

[2]

集成电路开短路测试系统 [P].

陈贤明 ;

林宽强 .

中国专利 :CN202119855U ,2012-01-18

[3]

一种通用集成电路开短路测试机 [P].

陈贤明 ;

林宽强 ;

黄彩萍 .

中国专利 :CN201522534U ,2010-07-07

[4]

一种集成电路引脚开短路的测试装置 [P].

郭文标 ;

王晓阳 .

中国专利 :CN208043985U ,2018-11-02

[5]

一种集成电路存储器的测试设备 [P].

温为杰 ;

李卫国 ;

李锦霞 ;

张亚民 .

中国专利 :CN206524184U ,2017-09-26

[6]

集成电路开短路自动测试系统 [P].

毛国梁 .

中国专利 :CN201812014U ,2011-04-27

[7]

一种集成电路开短路检测装置 [P].

田荣银 .

中国专利 :CN212008879U ,2020-11-24

[8]

一种集成电路引脚开短路的测试装置 [P].

张波 ;

魏建中 .

中国专利 :CN202494750U ,2012-10-17

[9]

一种集成电路测试设备 [P].

陈益群 ;

徐刚 ;

袁泉 ;

王泽山 .

中国专利 :CN216117909U ,2022-03-22

[10]

集成电路开/短路测试方法及测试机 [P].

顾汉玉 .

中国专利 :CN103543368A ,2014-01-29

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