一种通用集成电路开短路测试机

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920132400.2

申请日：

2009-06-09

公开(公告)号：

CN201522534U

公开(公告)日：

2010-07-07

发明(设计)人：

陈贤明林宽强黄彩萍

申请人：

申请人地址：

518128 广东省深圳市宝安区西乡黄田金碧工业区11栋

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

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法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-07-07	授权	授权
2019-05-31	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20090609 授权公告日:20100707 终止日期:20180609

共 50 条

[1]

集成电路开/短路测试方法及测试机 [P].

顾汉玉 .

中国专利 :CN103543368A ,2014-01-29

[2]

一种集成电路开短路测试设备 [P].

焦源 .

中国专利 :CN215641667U ,2022-01-25

[3]

集成电路开短路测试系统 [P].

陈贤明 ;

林宽强 .

中国专利 :CN202119855U ,2012-01-18

[4]

一种集成电路开短路测试设备 [P].

李卫国 ;

杨富征 ;

谭永良 .

中国专利 :CN202794413U ,2013-03-13

[5]

集成电路测试机 [P].

杨再林 ;

韦敏荣 ;

孔晓琳 ;

王英广 ;

李安平 .

中国专利 :CN306809249S ,2021-09-07

[6]

一种集成电路测试机 [P].

胡久恒 ;

赵兴贵 .

中国专利 :CN118937974A ,2024-11-12

[7]

一种集成电路测试机 [P].

徐四九 .

中国专利 :CN214845637U ,2021-11-23

[8]

一种集成电路测试机 [P].

田婷婷 .

中国专利 :CN113654989A ,2021-11-16

[9]

集成电路芯片测试机 [P].

侯海平 .

中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15

[10]

集成电路测试机箱 [P].

郭松瑜 .

中国专利 :CN309397215S ,2025-07-22

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