一种集成电路测试机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110857915.4

申请日：

2021-07-28

公开(公告)号：

CN113654989A

公开(公告)日：

2021-11-16

发明(设计)人：

田婷婷

申请人：

申请人地址：

362122 福建省泉州市惠安县东园镇新街182号

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2184 G01R3128

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-16	公开	公开
2021-12-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20210728

共 50 条

[1]

集成电路测试机 [P].

杨再林 ;

韦敏荣 ;

孔晓琳 ;

王英广 ;

李安平 .

中国专利 :CN306809249S ,2021-09-07

[2]

一种集成电路测试机 [P].

胡久恒 ;

赵兴贵 .

中国专利 :CN118937974A ,2024-11-12

[3]

一种集成电路测试机 [P].

徐四九 .

中国专利 :CN214845637U ,2021-11-23

[4]

集成电路芯片测试机 [P].

侯海平 .

中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15

[5]

集成电路测试机(IGBT) [P].

黄世雄 ;

韩良伟 ;

邱磊 ;

占津晶 .

中国专利 :CN308545423S ,2024-03-29

[6]

一种集成电路芯片测试机 [P].

柯武生 ;

翁国权 ;

王汉波 ;

郭军 .

中国专利 :CN215641679U ,2022-01-25

[7]

一种集成电路OS测试机 [P].

孙丽楠 .

中国专利 :CN113466667A ,2021-10-01

[8]

一种集成电路芯片测试机 [P].

姚金标 .

中国专利 :CN218167857U ,2022-12-30

[9]

新型集成电路芯片测试机 [P].

刘华 ;

赵春莲 ;

姚琳 ;

张超 ;

华锡培 .

中国专利 :CN201434900Y ,2010-03-31

[10]

一种测试组件及集成电路测试机 [P].

张经祥 ;

魏津 ;

杜宇 .

中国专利 :CN112255527A ,2021-01-22

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