集成电路测试机(IGBT)

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202330537792.6
申请日
2023-08-22
公开(公告)号
CN308545423S
公开(公告)日
2024-03-29
发明(设计)人
黄世雄 韩良伟 邱磊 占津晶
申请人
悦芯科技股份有限公司
申请人地址
230091 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号,智能科技园D1栋2层
IPC主分类号
10-05
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
集成电路测试系统(IGBT) [P]. 
黄世雄 ;
韩良伟 ;
邱磊 ;
占津晶 .
中国专利 :CN308551945S ,2024-04-02
[2]
集成电路测试机 [P]. 
杨再林 ;
韦敏荣 ;
孔晓琳 ;
王英广 ;
李安平 .
中国专利 :CN306809249S ,2021-09-07
[3]
集成电路芯片测试机 [P]. 
侯海平 .
中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15
[4]
集成电路测试机箱 [P]. 
郭松瑜 .
中国专利 :CN309397215S ,2025-07-22
[5]
集成电路测试机箱 [P]. 
林建军 .
中国专利 :CN308776018S ,2024-08-09
[6]
新型集成电路芯片测试机 [P]. 
刘华 ;
赵春莲 ;
姚琳 ;
张超 ;
华锡培 .
中国专利 :CN201434900Y ,2010-03-31
[7]
一种集成电路测试机 [P]. 
胡久恒 ;
赵兴贵 .
中国专利 :CN118937974A ,2024-11-12
[8]
多功能集成电路芯片测试机 [P]. 
刘华 ;
赵春莲 ;
姚琳 ;
张超 ;
华锡培 .
中国专利 :CN101587167A ,2009-11-25
[9]
一种集成电路测试机 [P]. 
徐四九 .
中国专利 :CN214845637U ,2021-11-23
[10]
一种集成电路测试机 [P]. 
田婷婷 .
中国专利 :CN113654989A ,2021-11-16