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集成电路测试机(IGBT)
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN202330537792.6
申请日
:
2023-08-22
公开(公告)号
:
CN308545423S
公开(公告)日
:
2024-03-29
发明(设计)人
:
黄世雄
韩良伟
邱磊
占津晶
申请人
:
悦芯科技股份有限公司
申请人地址
:
230091 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号,智能科技园D1栋2层
IPC主分类号
:
10-05
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-29
授权
授权
共 50 条
[1]
集成电路测试系统(IGBT)
[P].
黄世雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
黄世雄
;
韩良伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
韩良伟
;
邱磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
邱磊
;
占津晶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
占津晶
.
中国专利
:CN308551945S
,2024-04-02
[2]
集成电路测试机
[P].
杨再林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨再林
;
韦敏荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韦敏荣
;
孔晓琳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔晓琳
;
王英广
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王英广
;
李安平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李安平
.
中国专利
:CN306809249S
,2021-09-07
[3]
集成电路芯片测试机
[P].
侯海平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
侯海平
.
中国专利
:CN301409411S
,2010-12-15
[4]
集成电路测试机箱
[P].
郭松瑜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
云南师范大学
云南师范大学
郭松瑜
.
中国专利
:CN309397215S
,2025-07-22
[5]
集成电路测试机箱
[P].
林建军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳久协富实业有限公司
深圳久协富实业有限公司
林建军
.
中国专利
:CN308776018S
,2024-08-09
[6]
新型集成电路芯片测试机
[P].
刘华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘华
;
赵春莲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵春莲
;
姚琳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姚琳
;
张超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张超
;
华锡培
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
华锡培
.
中国专利
:CN201434900Y
,2010-03-31
[7]
一种集成电路测试机
[P].
胡久恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高坤电子科技有限公司
杭州高坤电子科技有限公司
胡久恒
;
赵兴贵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高坤电子科技有限公司
杭州高坤电子科技有限公司
赵兴贵
.
中国专利
:CN118937974A
,2024-11-12
[8]
多功能集成电路芯片测试机
[P].
刘华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘华
;
赵春莲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵春莲
;
姚琳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姚琳
;
张超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张超
;
华锡培
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
华锡培
.
中国专利
:CN101587167A
,2009-11-25
[9]
一种集成电路测试机
[P].
徐四九
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐四九
.
中国专利
:CN214845637U
,2021-11-23
[10]
一种集成电路测试机
[P].
田婷婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
田婷婷
.
中国专利
:CN113654989A
,2021-11-16
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