光检测系统及光检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201621067542.1
申请日
2016-09-20
公开(公告)号
CN206095585U
公开(公告)日
2017-04-12
发明(设计)人
郭祖强 金建培 李屹
申请人
申请人地址
518055 广东省深圳市南山区西丽茶光路1089号深圳市集成电路设计应用产业园4楼
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
G01J100 G03B2120
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
胡海国
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
光检测系统及光检测装置 [P]. 
郭祖强 ;
金建培 ;
李屹 .
中国专利 :CN107843412A ,2018-03-27
[2]
光检测系统及光检测装置 [P]. 
郭祖强 ;
金建培 ;
李屹 .
中国专利 :CN107843412B ,2024-06-14
[3]
光检测装置、光检测系统及光检测方法 [P]. 
崎村昇 .
日本专利 :CN117546040A ,2024-02-09
[4]
光型检测装置及光型检测系统 [P]. 
游大平 ;
樊扬华 .
中国专利 :CN212275206U ,2021-01-01
[5]
微纳光检测装置及光检测系统 [P]. 
程琳 ;
周琪璋 ;
李絮 .
中国专利 :CN207198036U ,2018-04-06
[6]
光检测装置及光检测系统 [P]. 
森本和浩 ;
篠原真人 .
中国专利 :CN107946326B ,2018-04-20
[7]
光检测装置及光检测系统 [P]. 
沟口恭史 .
日本专利 :CN121002892A ,2025-11-21
[8]
光检测装置及光检测系统 [P]. 
石川笃 ;
稻田安寿 .
日本专利 :CN118836980A ,2024-10-25
[9]
光检测装置及光检测系统 [P]. 
森本和浩 ;
篠原真人 .
日本专利 :CN114649431B ,2025-06-20
[10]
光检测装置及光检测系统 [P]. 
盐野照弘 .
中国专利 :CN107179575B ,2017-09-19