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光型检测装置及光型检测系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201922374984.0
申请日
:
2019-12-25
公开(公告)号
:
CN212275206U
公开(公告)日
:
2021-01-01
发明(设计)人
:
游大平
樊扬华
申请人
:
申请人地址
:
330000 江西省南昌市青山湖区昌东工业区东升大道1866号
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325
代理人
:
詹建新
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-01-01
授权
授权
共 50 条
[1]
光型检测装置、光型检测系统及光型检测方法
[P].
游大平
论文数:
0
引用数:
0
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0
游大平
;
樊扬华
论文数:
0
引用数:
0
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0
樊扬华
.
中国专利
:CN110987381A
,2020-04-10
[2]
光检测系统及光检测装置
[P].
郭祖强
论文数:
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0
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0
郭祖强
;
金建培
论文数:
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0
金建培
;
李屹
论文数:
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0
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0
李屹
.
中国专利
:CN206095585U
,2017-04-12
[3]
光检测装置、光检测系统及光检测方法
[P].
崎村昇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
崎村昇
.
日本专利
:CN117546040A
,2024-02-09
[4]
微纳光检测装置及光检测系统
[P].
程琳
论文数:
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0
程琳
;
周琪璋
论文数:
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周琪璋
;
李絮
论文数:
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0
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0
李絮
.
中国专利
:CN207198036U
,2018-04-06
[5]
光检测系统及光检测装置
[P].
郭祖强
论文数:
0
引用数:
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郭祖强
;
金建培
论文数:
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金建培
;
李屹
论文数:
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李屹
.
中国专利
:CN107843412A
,2018-03-27
[6]
光检测装置及光检测系统
[P].
森本和浩
论文数:
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森本和浩
;
篠原真人
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篠原真人
.
中国专利
:CN107946326B
,2018-04-20
[7]
光检测系统及光检测装置
[P].
郭祖强
论文数:
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机构:
深圳光峰科技股份有限公司
深圳光峰科技股份有限公司
郭祖强
;
金建培
论文数:
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机构:
深圳光峰科技股份有限公司
深圳光峰科技股份有限公司
金建培
;
论文数:
引用数:
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机构:
李屹
.
中国专利
:CN107843412B
,2024-06-14
[8]
光检测装置及光检测系统
[P].
沟口恭史
论文数:
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0
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
沟口恭史
.
日本专利
:CN121002892A
,2025-11-21
[9]
光检测装置及光检测系统
[P].
石川笃
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机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
石川笃
;
稻田安寿
论文数:
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机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
稻田安寿
.
日本专利
:CN118836980A
,2024-10-25
[10]
光检测装置及光检测系统
[P].
森本和浩
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
森本和浩
;
篠原真人
论文数:
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0
机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
篠原真人
.
日本专利
:CN114649431B
,2025-06-20
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