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离子注入层光刻胶膜厚的优化方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510456455.9
申请日
:
2015-07-29
公开(公告)号
:
CN105097594A
公开(公告)日
:
2015-11-25
发明(设计)人
:
甘志锋
毛智彪
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
智云
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-10-16
授权
授权
2015-12-23
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101638500119 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2015104564559 申请日:20150729
2015-11-25
公开
公开
共 50 条
[1]
改善离子注入层光刻胶形貌的方法
[P].
司晓萌
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
司晓萌
;
雷雨
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
雷雨
.
中国专利
:CN118382286A
,2024-07-23
[2]
改善离子注入光刻层光刻胶形貌的方法
[P].
孟晓莹
论文数:
0
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0
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0
孟晓莹
;
张彦伟
论文数:
0
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0
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0
张彦伟
.
中国专利
:CN112382562A
,2021-02-19
[3]
改善离子注入光刻层光刻胶形貌的方法
[P].
孟晓莹
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
孟晓莹
;
张彦伟
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
张彦伟
.
中国专利
:CN112382562B
,2024-03-12
[4]
降低离子注入层光刻胶剥离风险的方法
[P].
蒋斌杰
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0
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蒋斌杰
;
于世瑞
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0
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0
于世瑞
.
中国专利
:CN106328506B
,2017-01-11
[5]
离子注入工艺后的光刻胶层的去除方法
[P].
宋振伟
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0
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宋振伟
;
徐友峰
论文数:
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徐友峰
;
陈晋
论文数:
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陈晋
.
中国专利
:CN103996617A
,2014-08-20
[6]
一种测试光刻胶层对离子注入阻挡能力的方法
[P].
胡华勇
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0
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胡华勇
;
顾一鸣
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顾一鸣
.
中国专利
:CN102706785A
,2012-10-03
[7]
去除高剂量离子注入后的光刻胶层的方法
[P].
胡春周
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0
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0
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胡春周
.
中国专利
:CN103592827B
,2014-02-19
[8]
用作等离子注入的掩蔽层的光刻胶的去除方法
[P].
曹亮
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曹亮
;
史超
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史超
;
汤佳杰
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0
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汤佳杰
.
中国专利
:CN103092009B
,2013-05-08
[9]
光刻热板动态温度控制光刻胶膜厚的方法
[P].
钱睿
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0
引用数:
0
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钱睿
;
赖璐璐
论文数:
0
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0
赖璐璐
.
中国专利
:CN112040571A
,2020-12-04
[10]
一种选择离子注入的光刻胶厚度方法
[P].
胡华勇
论文数:
0
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0
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0
胡华勇
;
洪中山
论文数:
0
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0
洪中山
.
中国专利
:CN102903649A
,2013-01-30
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