材料表面局部光谱测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110416229.X

申请日：

2011-12-14

公开(公告)号：

CN102519885B

公开(公告)日：

2012-06-27

发明(设计)人：

徐耿钊刘争晖钟海舰樊英民曾雄辉周桃飞邱永鑫王建峰徐科

申请人：

申请人地址：

215125 江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区若水路398号

IPC主分类号：

G01N2125

IPC分类号：

G01Q6024

代理机构：

上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218

代理人：

孙佳胤;翟羽

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/25 申请日:20111214 授权公告日:20130710 终止日期:20181214
2013-07-10	授权	授权
2012-09-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101320536442 IPC(主分类):G01N 21/25 专利申请号:201110416229X 申请日:20111214
2012-06-27	公开	公开

共 50 条

[1]

光谱测量系统及测量方法 [P].

戴琼海 ;

高彬 ;

张晶 ;

邵航 ;

范静涛 .

中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13

[2]

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[3]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[4]

透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

郑仲翔 ;

陈敬修 ;

胡恩德 .

中国专利 :CN104792697A ,2015-07-22

[5]

光谱测量方法、装置 [P].

薛敏 ;

朱贝贝 ;

潘时龙 ;

曹源 .

中国专利 :CN107121193A ,2017-09-01

[6]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993A ,2022-05-27

[7]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993B ,2024-09-24

[8]

一种光谱测量装置和测量方法 [P].

龚煜 ;

吴骏翔 ;

董华展 ;

严宝林 ;

周泽 ;

李春品 ;

韩高荣 ;

祝林立 .

中国专利 :CN120801254A ,2025-10-17

[9]

光谱测量装置及其测量方法 [P].

王振伟 .

中国专利 :CN115615544A ,2023-01-17

[10]

漫反射光谱测量装置及测量方法 [P].

李晨曦 ;

徐可欣 ;

李胜 ;

赵丕成 ;

汤海涛 .

中国专利 :CN109444082A ,2019-03-08

← 1 2 3 4 5 →