超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法

被引：0

申请号：

CN202210170143.1

申请日：

2022-02-23

公开(公告)号：

CN114543993A

公开(公告)日：

2022-05-27

发明(设计)人：

郝成龙谭凤泽朱瑞朱健

申请人：

申请人地址：

518101 广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

G01J302 G02B100

代理机构：

深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285

代理人：

张金香

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	公开	公开
2022-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20220223

共 50 条

[1]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993B ,2024-09-24

[2]

微弱光光谱测量器件和光谱仪 [P].

张巍 ;

郑敬元 ;

冯雪 ;

刘仿 ;

崔开宇 ;

黄翊东 .

中国专利 :CN114497343A ,2022-05-13

[3]

光谱仪和利用其的光谱测量方法 [P].

李敬锡 ;

金元穆 ;

黄圭元 ;

金寅昊 ;

李旭圣 ;

郑斗硕 .

中国专利 :CN109642822B ,2019-04-16

[4]

光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质 [P].

张建伟 ;

胡华星 .

中国专利 :CN114526818A ,2022-05-24

[5]

光谱仪的光谱测量方法 [P].

邓文平 .

中国专利 :CN105043996A ,2015-11-11

[6]

光谱仪及其光谱测量方法 [P].

黄勇谕 ;

李锡滨 ;

谢和易 ;

陈正雄 ;

林明慧 .

中国专利 :CN108344688A ,2018-07-31

[7]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[8]

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[9]

射频标记光谱仪及光谱测量方法 [P].

刘泉 .

中国专利 :CN116202621B ,2025-06-27

[10]

透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

郑仲翔 ;

陈敬修 ;

胡恩德 .

中国专利 :CN104792697A ,2015-07-22

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