光谱仪的光谱测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510211814.4

申请日：

2015-04-29

公开(公告)号：

CN105043996A

公开(公告)日：

2015-11-11

发明(设计)人：

邓文平

申请人：

申请人地址：

215123 江苏省苏州市工业园区仁爱路166号明德楼214室

IPC主分类号：

G01N2131

IPC分类号：

G01J342

代理机构：

苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235

代理人：

杨林洁

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-16	授权	授权
2015-11-11	公开	公开
2015-12-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101636468394 IPC(主分类):G01N 21/31 专利申请号:2015102118144 申请日:20150429
2022-04-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/31 申请日:20150429 授权公告日:20180116 终止日期:20210429

共 50 条

[1]

光谱仪及其光谱测量方法 [P].

黄勇谕 ;

李锡滨 ;

谢和易 ;

陈正雄 ;

林明慧 .

中国专利 :CN108344688A ,2018-07-31

[2]

射频标记光谱仪及光谱测量方法 [P].

刘泉 .

中国专利 :CN116202621B ,2025-06-27

[3]

光谱仪和利用其的光谱测量方法 [P].

李敬锡 ;

金元穆 ;

黄圭元 ;

金寅昊 ;

李旭圣 ;

郑斗硕 .

中国专利 :CN109642822B ,2019-04-16

[4]

基于滤波式光谱仪的光谱测量方法、设备、系统及介质 [P].

马杰 ;

姚春晖 .

中国专利 :CN119354332A ,2025-01-24

[5]

光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质 [P].

张建伟 ;

胡华星 .

中国专利 :CN114526818A ,2022-05-24

[6]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993A ,2022-05-27

[7]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993B ,2024-09-24

[8]

一种二维光谱仪光谱测量方法 [P].

李燕 ;

潘建根 .

中国专利 :CN119935310A ,2025-05-06

[9]

基于激光外差光谱仪的单边带光谱测量方法 [P].

沈凤娇 ;

段惠敏 ;

卢军 ;

薛正跃 ;

张胜 .

中国专利 :CN118549382B ,2024-11-19

[10]

基于激光外差光谱仪的单边带光谱测量方法 [P].

沈凤娇 ;

段惠敏 ;

卢军 ;

薛正跃 ;

张胜 .

中国专利 :CN118549382A ,2024-08-27

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