一种二维光谱仪光谱测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510119482.0

申请日：

2025-01-24

公开(公告)号：

CN119935310A

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

李燕潘建根

申请人：

杭州远方光电信息股份有限公司

申请人地址：

310057 浙江省杭州市滨江区滨康路669号1号楼

IPC主分类号：

G01J3/28

IPC分类号：

G01J3/02 G06N3/0464 G06N3/08

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	公开	公开
2025-05-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/28申请日:20250124

共 50 条

[1]

光谱仪的光谱测量方法 [P].

邓文平 .

中国专利 :CN105043996A ,2015-11-11

[2]

光谱仪及其光谱测量方法 [P].

黄勇谕 ;

李锡滨 ;

谢和易 ;

陈正雄 ;

林明慧 .

中国专利 :CN108344688A ,2018-07-31

[3]

射频标记光谱仪及光谱测量方法 [P].

刘泉 .

中国专利 :CN116202621B ,2025-06-27

[4]

光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质 [P].

张建伟 ;

胡华星 .

中国专利 :CN114526818A ,2022-05-24

[5]

光谱仪和利用其的光谱测量方法 [P].

李敬锡 ;

金元穆 ;

黄圭元 ;

金寅昊 ;

李旭圣 ;

郑斗硕 .

中国专利 :CN109642822B ,2019-04-16

[6]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993A ,2022-05-27

[7]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993B ,2024-09-24

[8]

微区可见光谱仪及光谱测量方法 [P].

张冬仙 ;

贾昊 ;

吴青峻 ;

蒋建中 ;

丁少庆 .

中国专利 :CN107314978A ,2017-11-03

[9]

一种二维光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN101813520A ,2010-08-25

[10]

一种二维光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN201780164U ,2011-03-30

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