一种二维光谱测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020275397.2

申请日：

2010-07-29

公开(公告)号：

CN201780164U

公开(公告)日：

2011-03-30

发明(设计)人：

潘建根

申请人：

申请人地址：

310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

G01J306 G01J304 G01J346

代理机构：

杭州杭诚专利事务所有限公司 33109

代理人：

林宝堂

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-21	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20100729 授权公告日:20110330
2011-03-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种二维光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN101813520A ,2010-08-25

[2]

一种二维光谱仪光谱测量方法 [P].

李燕 ;

潘建根 .

中国专利 :CN119935310A ,2025-05-06

[3]

光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

何浩培 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

沈骁 ;

仪明东 ;

李咏华 .

中国专利 :CN203772415U ,2014-08-13

[4]

光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[5]

一种光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN203572576U ,2014-04-30

[6]

一种二维相关LIBS光谱测量方法、系统及装置 [P].

董大明 ;

赵贤德 ;

王娜 ;

田宏武 ;

邢振 ;

李传霞 .

中国专利 :CN111257305A ,2020-06-09

[7]

一种光谱测量系统 [P].

潘蔚 ;

唐义 ;

李瀚波 .

中国专利 :CN201885801U ,2011-06-29

[8]

一种光谱测量装置 [P].

罗韩生 ;

陈朗 ;

陈孝林 .

中国专利 :CN207231634U ,2018-04-13

[9]

一种光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN202522321U ,2012-11-07

[10]

一种光谱测量装置 [P].

唐星阳 ;

庄燕青 ;

吕迪洋 ;

吴从剑 .

中国专利 :CN205317345U ,2016-06-15

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