光谱仪及其光谱测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710059680.8

申请日：

2017-01-24

公开(公告)号：

CN108344688A

公开(公告)日：

2018-07-31

发明(设计)人：

黄勇谕李锡滨谢和易陈正雄林明慧

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹县湖口乡凤山村文化路5号

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2127

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

舒雄文;蹇炜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20170124
2018-07-31	公开	公开
2021-01-15	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 21/01 申请公布日:20180731

共 50 条

[1]

光谱仪的光谱测量方法 [P].

邓文平 .

中国专利 :CN105043996A ,2015-11-11

[2]

射频标记光谱仪及光谱测量方法 [P].

刘泉 .

中国专利 :CN116202621B ,2025-06-27

[3]

光谱仪和利用其的光谱测量方法 [P].

李敬锡 ;

金元穆 ;

黄圭元 ;

金寅昊 ;

李旭圣 ;

郑斗硕 .

中国专利 :CN109642822B ,2019-04-16

[4]

光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质 [P].

张建伟 ;

胡华星 .

中国专利 :CN114526818A ,2022-05-24

[5]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993A ,2022-05-27

[6]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993B ,2024-09-24

[7]

近红外量子点光谱仪及其构建方法和光谱测量方法 [P].

李慧玉 ;

钟海政 ;

边丽蘅 ;

杨高岭 .

中国专利 :CN112730318A ,2021-04-30

[8]

一种二维光谱仪光谱测量方法 [P].

李燕 ;

潘建根 .

中国专利 :CN119935310A ,2025-05-06

[9]

微区可见光谱仪及光谱测量方法 [P].

张冬仙 ;

贾昊 ;

吴青峻 ;

蒋建中 ;

丁少庆 .

中国专利 :CN107314978A ,2017-11-03

[10]

基于激光外差光谱仪的单边带光谱测量方法 [P].

沈凤娇 ;

段惠敏 ;

卢军 ;

薛正跃 ;

张胜 .

中国专利 :CN118549382B ,2024-11-19

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