原位压/划痕测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210418066.3

申请日：

2012-10-26

公开(公告)号：

CN102928307A

公开(公告)日：

2013-02-13

发明(设计)人：

赵宏伟米杰黄虎邵明坤

申请人：

申请人地址：

130025 吉林省长春市人民大街5988号

IPC主分类号：

G01N340

IPC分类号：

代理机构：

吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100

代理人：

王怡敏

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-02-13	公开	公开
2015-04-22	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101714131277 IPC(主分类):G01N 3/40 专利申请号:2012104180663 申请公布日:20130213
2013-03-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101415524554 IPC(主分类):G01N 3/40 专利申请号:2012104180663 申请日:20121026

共 50 条

[1]

原位压/划痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

米杰 ;

黄虎 ;

邵明坤 .

中国专利 :CN202903626U ,2013-04-24

[2]

全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置 [P].

黄虎 ;

赵宏伟 ;

史成利 ;

万顺光 .

中国专利 :CN202903628U ,2013-04-24

[3]

全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置 [P].

黄虎 ;

赵宏伟 ;

史成利 ;

万顺光 .

中国专利 :CN102928308B ,2013-02-13

[4]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

袁英堃 .

中国专利 :CN102252925A ,2011-11-23

[5]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

孙义质 .

中国专利 :CN108507891A ,2018-09-07

[6]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

袁英堃 .

中国专利 :CN202057562U ,2011-11-30

[7]

量程可调式原位微纳米压痕/划痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

赵丹 ;

王云艺 ;

谢英杰 ;

吴迪 ;

薛博然 ;

白元元 ;

苗淼 ;

周明星 ;

李瑞 .

中国专利 :CN206725476U ,2017-12-08

[8]

量程可调式原位微纳米压痕/划痕测试装置及方法 [P].

赵宏伟 ;

赵丹 ;

王云艺 ;

谢英杰 ;

吴迪 ;

薛博然 ;

白元元 ;

苗淼 ;

周明星 ;

李瑞 .

中国专利 :CN107064198A ,2017-08-18

[9]

一种原位微纳米压痕划痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

李先柯 ;

王顺博 ;

赵泽睿 ;

邢文娟 ;

杨凯升 ;

杨昕航 .

中国专利 :CN119064177A ,2024-12-03

[10]

手机表面划痕测试装置 [P].

郭鸣 .

中国专利 :CN207488104U ,2018-06-12

← 1 2 3 4 5 →