原位压/划痕测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220555878.8

申请日：

2012-10-26

公开(公告)号：

CN202903626U

公开(公告)日：

2013-04-24

发明(设计)人：

赵宏伟米杰黄虎邵明坤

申请人：

申请人地址：

130025 吉林省长春市人民大街5988号

IPC主分类号：

G01N340

IPC分类号：

代理机构：

吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100

代理人：

王怡敏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-24	授权	授权
2022-11-11	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01N 3/40 申请日:20121026 授权公告日:20130424

共 50 条

[1]

原位压/划痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

米杰 ;

黄虎 ;

邵明坤 .

中国专利 :CN102928307A ,2013-02-13

[2]

全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置 [P].

黄虎 ;

赵宏伟 ;

史成利 ;

万顺光 .

中国专利 :CN202903628U ,2013-04-24

[3]

全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置 [P].

黄虎 ;

赵宏伟 ;

史成利 ;

万顺光 .

中国专利 :CN102928308B ,2013-02-13

[4]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

袁英堃 .

中国专利 :CN102252925A ,2011-11-23

[5]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

孙义质 .

中国专利 :CN108507891A ,2018-09-07

[6]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

袁英堃 .

中国专利 :CN202057562U ,2011-11-30

[7]

量程可调式原位微纳米压痕/划痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

赵丹 ;

王云艺 ;

谢英杰 ;

吴迪 ;

薛博然 ;

白元元 ;

苗淼 ;

周明星 ;

李瑞 .

中国专利 :CN206725476U ,2017-12-08

[8]

手机表面划痕测试装置 [P].

郭鸣 .

中国专利 :CN207488104U ,2018-06-12

[9]

小型化原位纳米压痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

袁英堃 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

耿春阳 .

中国专利 :CN202057617U ,2011-11-30

[10]

手机玻璃盖板划痕测试装置 [P].

郭鸣 .

中国专利 :CN207488105U ,2018-06-12

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