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一种电子芯片设计试验检测装置
被引:0
申请号
:
CN202122817784.5
申请日
:
2021-11-17
公开(公告)号
:
CN216434285U
公开(公告)日
:
2022-05-03
发明(设计)人
:
姚文佳
申请人
:
申请人地址
:
213000 江苏省常州市新北区新区科技园2号楼创业中心A417
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-03
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电子芯片设计试验检测装置
[P].
赵金跃
论文数:
0
引用数:
0
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0
赵金跃
;
邓家榆
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓家榆
.
中国专利
:CN218470911U
,2023-02-10
[2]
一种电子芯片设计试验检测装置
[P].
李凯
论文数:
0
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李凯
;
唐成
论文数:
0
引用数:
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唐成
;
陈勇
论文数:
0
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陈勇
;
张磊
论文数:
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张磊
;
窦瑾
论文数:
0
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0
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窦瑾
;
姜仲秋
论文数:
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姜仲秋
;
徐永
论文数:
0
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徐永
.
中国专利
:CN213023446U
,2021-04-20
[3]
一种芯片设计试验检测装置
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州晶耀信息科技有限公司
苏州晶耀信息科技有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN221056501U
,2024-05-31
[4]
一种芯片设计试验检测装置
[P].
周爵
论文数:
0
引用数:
0
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0
周爵
.
中国专利
:CN216411491U
,2022-04-29
[5]
一种电子芯片检测装置
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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不公告发明人
.
中国专利
:CN212341376U
,2021-01-12
[6]
一种电子芯片检测装置
[P].
田丰
论文数:
0
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田丰
;
祝华锋
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祝华锋
;
丁建中
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丁建中
;
黄伟
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黄伟
.
中国专利
:CN217506055U
,2022-09-27
[7]
一种电子芯片检测装置
[P].
冉明华
论文数:
0
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0
冉明华
.
中国专利
:CN210294464U
,2020-04-10
[8]
一种电子芯片检测装置
[P].
司桂芝
论文数:
0
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0
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0
司桂芝
.
中国专利
:CN217360197U
,2022-09-02
[9]
一种电子芯片检测装置
[P].
曹满囤
论文数:
0
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0
曹满囤
.
中国专利
:CN210534274U
,2020-05-15
[10]
一种电子芯片检测装置
[P].
刘云飞
论文数:
0
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0
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0
刘云飞
.
中国专利
:CN212514889U
,2021-02-09
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