一种电子芯片设计试验检测装置

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申请号
CN202122817784.5
申请日
2021-11-17
公开(公告)号
CN216434285U
公开(公告)日
2022-05-03
发明(设计)人
姚文佳
申请人
申请人地址
213000 江苏省常州市新北区新区科技园2号楼创业中心A417
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电子芯片设计试验检测装置 [P]. 
赵金跃 ;
邓家榆 .
中国专利 :CN218470911U ,2023-02-10
[2]
一种电子芯片设计试验检测装置 [P]. 
李凯 ;
唐成 ;
陈勇 ;
张磊 ;
窦瑾 ;
姜仲秋 ;
徐永 .
中国专利 :CN213023446U ,2021-04-20
[3]
一种芯片设计试验检测装置 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN221056501U ,2024-05-31
[4]
一种芯片设计试验检测装置 [P]. 
周爵 .
中国专利 :CN216411491U ,2022-04-29
[5]
一种电子芯片检测装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN212341376U ,2021-01-12
[6]
一种电子芯片检测装置 [P]. 
田丰 ;
祝华锋 ;
丁建中 ;
黄伟 .
中国专利 :CN217506055U ,2022-09-27
[7]
一种电子芯片检测装置 [P]. 
冉明华 .
中国专利 :CN210294464U ,2020-04-10
[8]
一种电子芯片检测装置 [P]. 
司桂芝 .
中国专利 :CN217360197U ,2022-09-02
[9]
一种电子芯片检测装置 [P]. 
曹满囤 .
中国专利 :CN210534274U ,2020-05-15
[10]
一种电子芯片检测装置 [P]. 
刘云飞 .
中国专利 :CN212514889U ,2021-02-09