一种电子芯片设计试验检测装置

被引：0

申请号：

CN202220769734.6

申请日：

2022-03-31

公开(公告)号：

CN218470911U

公开(公告)日：

2023-02-10

发明(设计)人：

赵金跃邓家榆

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区华强北街道福强社区燕南路7号美然大院2栋105

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104 B08B104

代理机构：

北京哌智科创知识产权代理事务所(普通合伙) 11745

代理人：

陈培生

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子芯片设计试验检测装置 [P].

姚文佳 .

中国专利 :CN216434285U ,2022-05-03

[2]

一种电子芯片设计试验检测装置 [P].

李凯 ;

唐成 ;

陈勇 ;

张磊 ;

窦瑾 ;

姜仲秋 ;

徐永 .

中国专利 :CN213023446U ,2021-04-20

[3]

一种芯片设计试验检测装置 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN221056501U ,2024-05-31

[4]

一种芯片设计试验检测装置 [P].

周爵 .

中国专利 :CN216411491U ,2022-04-29

[5]

一种芯片设计稳定性检测装置 [P].

宋益豪 .

中国专利 :CN215953780U ,2022-03-04

[6]

一种电子芯片检测装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN212341376U ,2021-01-12

[7]

一种电子芯片检测装置 [P].

田丰 ;

祝华锋 ;

丁建中 ;

黄伟 .

中国专利 :CN217506055U ,2022-09-27

[8]

一种电子芯片检测装置 [P].

冉明华 .

中国专利 :CN210294464U ,2020-04-10

[9]

一种电子芯片检测装置 [P].

司桂芝 .

中国专利 :CN217360197U ,2022-09-02

[10]

一种电子芯片检测装置 [P].

曹满囤 .

中国专利 :CN210534274U ,2020-05-15

← 1 2 3 4 5 →