一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711458673.1

申请日：

2017-12-28

公开(公告)号：

CN108768394A

公开(公告)日：

2018-11-06

发明(设计)人：

朱志强冯长磊李学武陈雷王媛媛李金潮

申请人：

申请人地址：

100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

H03M110

IPC分类号：

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

武莹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-11-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H03M 1/10 申请日:20171228
2018-11-06	公开	公开
2022-01-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统 [P].

贾森 ;

冯长磊 ;

秦贺 ;

李程 ;

武昊男 .

中国专利 :CN111130545A ,2020-05-08

[2]

一种火炮后坐位移动态参数测试系统和方法 [P].

罗红娥 ;

王连猛 .

中国专利 :CN117704888A ,2024-03-15

[3]

一种ADC动态性能参数测试系统及测试方法 [P].

李海涛 ;

田耕 ;

李斌康 ;

杨少华 ;

李玉婷 ;

渠红光 ;

罗通顶 ;

吕宗璟 ;

赵前 ;

王晶 ;

张雁霞 ;

阮林波 ;

刘森 ;

赵春滨 ;

秦震 ;

何自豪 .

中国专利 :CN120320772A ,2025-07-15

[4]

一种螺旋桨动态参数测试系统 [P].

张勇 ;

刘忠鑫 ;

石世杰 ;

霍佳波 ;

曹轶杰 ;

邹爱成 ;

王勇军 ;

孙山林 ;

陈春松 ;

许本胜 ;

王艺霖 .

中国专利 :CN115326286A ,2022-11-11

[5]

弹载式动态参数测试系统 [P].

孙海涛 ;

邓辉咏 ;

殷军辉 ;

崔凯波 ;

刘亮 ;

齐子元 ;

俞文文 ;

赵玉龙 ;

张飒 ;

郭德卿 .

中国专利 :CN115307485A ,2022-11-08

[6]

一种GaN器件动态参数测试系统 [P].

梁光胜 .

中国专利 :CN221746223U ,2024-09-20

[7]

光耦动态参数测试系统 [P].

陆军 ;

钱卫东 .

中国专利 :CN217484416U ,2022-09-23

[8]

一种数模混合芯片功能测试系统 [P].

刘强 .

中国专利 :CN223139768U ,2025-07-22

[9]

混合信号处理微系统模拟开关和ADC单元的测试系统及方法 [P].

王高原 ;

冯长磊 ;

武昊男 ;

吴伟 ;

冯国兵 .

中国专利 :CN119916173A ,2025-05-02

[10]

一种高速集成电路动态参数测试系统 [P].

赵帅 ;

聂之君 ;

周若臣 ;

孔笑荷 ;

闫兴亮 .

中国专利 :CN220490983U ,2024-02-13

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