一种数模混合芯片功能测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421347723.4

申请日：

2024-06-13

公开(公告)号：

CN223139768U

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

刘强

申请人：

无锡矽杰微电子有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A1幢9层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/3167

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260

代理人：

郭慧

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省无锡市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种数模混合信号芯片测试系统及方法 [P].

庞新洁 .

中国专利 :CN106059582A ,2016-10-26

[2]

一种数模混合芯片测试的抗干扰方法 [P].

武平 ;

孙昕 ;

何超 ;

石志刚 .

中国专利 :CN106814299A ,2017-06-09

[3]

一种通用FLASH芯片功能测试系统 [P].

李洪 ;

张涛 .

中国专利 :CN120870835A ,2025-10-31

[4]

一种数模混合芯片晶圆级测试的探卡公板 [P].

孙昕 ;

石志刚 ;

武平 ;

何超 .

中国专利 :CN203658400U ,2014-06-18

[5]

一种数模混合电路的测试方法及系统 [P].

高磊 ;

陈雨 .

中国专利 :CN119882441A ,2025-04-25

[6]

一种基于工业视觉的针对数模混合芯片测试分选一体机 [P].

李亮 ;

王杨 .

中国专利 :CN120679746A ,2025-09-23

[7]

芯片功能测试系统与芯片 [P].

陆亚军 ;

盛怀亮 .

中国专利 :CN120103107A ,2025-06-06

[8]

一种数模混合芯片的低功耗验证方法和测试平台 [P].

宋存杰 ;

雷海燕 ;

卢鼎 .

中国专利 :CN112364595A ,2021-02-12

[9]

一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统 [P].

朱志强 ;

冯长磊 ;

李学武 ;

陈雷 ;

王媛媛 ;

李金潮 .

中国专利 :CN108768394A ,2018-11-06

[10]

一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统 [P].

贾森 ;

冯长磊 ;

秦贺 ;

李程 ;

武昊男 .

中国专利 :CN111130545A ,2020-05-08

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