一种数模混合信号芯片测试系统及方法

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专利类型
发明
申请号
CN201610272294.2
申请日
2016-04-28
公开(公告)号
CN106059582A
公开(公告)日
2016-10-26
发明(设计)人
庞新洁
申请人
申请人地址
518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
IPC主分类号
H03M110
IPC分类号
代理机构
深圳市凯达知识产权事务所 44256
代理人
刘大弯
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种数模混合芯片功能测试系统 [P]. 
刘强 .
中国专利 :CN223139768U ,2025-07-22
[2]
一种数模混合芯片测试的抗干扰方法 [P]. 
武平 ;
孙昕 ;
何超 ;
石志刚 .
中国专利 :CN106814299A ,2017-06-09
[3]
一种数模混合电路的测试方法及系统 [P]. 
高磊 ;
陈雨 .
中国专利 :CN119882441A ,2025-04-25
[4]
一种芯片测试系统及芯片测试方法 [P]. 
罗熊 ;
叶志辉 ;
向建军 .
中国专利 :CN120629890A ,2025-09-12
[5]
一种数模混合微系统的测试信号传输装置及测试方法 [P]. 
叶康龙 ;
陈轶伦 ;
应迪科 ;
宣银良 ;
王志宇 ;
郁发新 .
中国专利 :CN119936635A ,2025-05-06
[6]
一种数模混合微系统的测试信号传输装置及测试方法 [P]. 
叶康龙 ;
陈轶伦 ;
应迪科 ;
宣银良 ;
王志宇 ;
郁发新 .
中国专利 :CN119936635B ,2025-07-25
[7]
一种数模混合信号集成电路测试仪器 [P]. 
张衡 .
中国专利 :CN113835020A ,2021-12-24
[8]
一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19
[9]
一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11
[10]
一种数模混合芯片仿真方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
张敬兴 ;
郑茳 ;
肖佐楠 ;
匡启和 .
中国专利 :CN120597809B ,2025-10-21