一种片式电子元器件测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811266519.9

申请日：

2018-10-29

公开(公告)号：

CN109541340A

公开(公告)日：

2019-03-29

发明(设计)人：

陈月光卞德东高洪利杨永征宋桂涛

申请人：

申请人地址：

276300 山东省临沂市沂南县金波路山东同方鲁颖电子有限公司

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20181029
2019-03-29	公开	公开
2021-05-28	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20190329

共 50 条

[1]

一种电子元器件测试装置 [P].

潘帮哲 ;

刘静 ;

谭吉涛 ;

谭丽娟 .

中国专利 :CN217901908U ,2022-11-25

[2]

一种电子元器件测试装置 [P].

陈月光 ;

高洪利 ;

苏强 ;

王明波 ;

桑士宝 .

中国专利 :CN109541262A ,2019-03-29

[3]

电子元器件测试装置 [P].

刘世凯 .

中国专利 :CN115586386A ,2023-01-10

[4]

一种电子元器件测试装置 [P].

陆晓东 .

中国专利 :CN108710004A ,2018-10-26

[5]

一种电子元器件测试装置 [P].

张勇 ;

夏欢 ;

王耀辉 .

中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20

[6]

一种电子元器件测试装置 [P].

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05

[7]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN118362851A ,2024-07-19

[8]

一种电子元器件测试装置 [P].

邹智鹏 .

中国专利 :CN212845687U ,2021-03-30

[9]

一种电子元器件测试装置 [P].

支源 ;

吴磊 ;

杨敏 ;

赵东东 ;

崔峰 ;

贺军川 ;

张雷 ;

温鹏 .

中国专利 :CN109188118A ,2019-01-11

[10]

一种电子元器件测试装置 [P].

史金屏 .

中国专利 :CN221426803U ,2024-07-26

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