一种电子元器件测试装置

被引：0

申请号：

CN202221514464.0

申请日：

2022-06-15

公开(公告)号：

CN217901908U

公开(公告)日：

2022-11-25

发明(设计)人：

潘帮哲刘静谭吉涛谭丽娟

申请人：

申请人地址：

321302 浙江省金华市永康市城西新区下谢村176号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

上海政济知识产权代理事务所(普通合伙) 31479

代理人：

黄小灵

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元器件测试装置 [P].

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05

[2]

一种电子元器件测试装置 [P].

史金屏 .

中国专利 :CN221426803U ,2024-07-26

[3]

一种片式电子元器件测试装置 [P].

陈月光 ;

卞德东 ;

高洪利 ;

杨永征 ;

宋桂涛 .

中国专利 :CN109541340A ,2019-03-29

[4]

一种电子元器件测试装置 [P].

张勇 ;

夏欢 ;

王耀辉 .

中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20

[5]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN118362851A ,2024-07-19

[6]

一种电子元器件测试装置 [P].

邹智鹏 .

中国专利 :CN212845687U ,2021-03-30

[7]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN107807317B ,2024-05-28

[8]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN107807317A ,2018-03-16

[9]

一种电子元器件测试装置 [P].

陈月光 ;

高洪利 ;

苏强 ;

王明波 ;

桑士宝 .

中国专利 :CN109541262A ,2019-03-29

[10]

一种电子元器件测试装置 [P].

许晓伟 .

中国专利 :CN217156696U ,2022-08-09

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