参数校验方法及装置、存储介质、服务终端

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910967122.0

申请日：

2019-10-12

公开(公告)号：

CN112650488A

公开(公告)日：

2021-04-13

发明(设计)人：

吴学飞张璨

申请人：

申请人地址：

200120 上海市浦东新区上海市陆家嘴环路1233号汇亚大厦27楼

IPC主分类号：

G06F836

IPC分类号：

G06F830 G06F873

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

张振军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-13	公开	公开
2021-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 8/36 申请日:20191012

共 50 条

[1]

参数校验方法及装置、存储介质、服务终端 [P].

吴学飞 ;

张璨 .

中国专利 :CN112650488B ,2024-10-22

[2]

接口参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙佳伟 .

中国专利 :CN112306879A ,2021-02-02

[3]

参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P].

尹越 ;

刘昱泽 ;

王哲 .

中国专利 :CN117369866A ,2024-01-09

[4]

参数校验方法、系统、装置及存储介质 [P].

王春春 .

中国专利 :CN113608913A ,2021-11-05

[5]

参数的校验方法、装置及存储介质 [P].

刘居贤 .

中国专利 :CN117350270A ,2024-01-05

[6]

参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张亚威 ;

袁立超 .

中国专利 :CN119621522A ,2025-03-14

[7]

参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张国辉 ;

葛国周 .

中国专利 :CN114357388A ,2022-04-15

[8]

参数校验方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

王光鑫 ;

李雪 ;

陈其宾 ;

姜凯 ;

李锐 .

中国专利 :CN119474474A ,2025-02-18

[9]

参数校验方法、校验模板的生成方法及存储介质 [P].

付敏 ;

申晓波 ;

龚成龙 .

中国专利 :CN114461302A ,2022-05-10

[10]

数据校验方法、终端及存储介质 [P].

谢丹力 ;

吴磊 ;

李鑫 ;

张二毛 ;

李爱宏 ;

闫党军 .

中国专利 :CN114785502B ,2024-12-20

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