参数校验方法、系统、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110895875.2

申请日：

2021-08-05

公开(公告)号：

CN113608913A

公开(公告)日：

2021-11-05

发明(设计)人：

王春春

申请人：

申请人地址：

200441 上海市宝山区长江路258号3幢B1-8008室

IPC主分类号：

G06F1107

IPC分类号：

G06F954

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

温可睿

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-05	公开	公开
2021-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/07 申请日:20210805

共 50 条

[1]

参数校验方法、校验模板的生成方法及存储介质 [P].

付敏 ;

申晓波 ;

龚成龙 .

中国专利 :CN114461302A ,2022-05-10

[2]

参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张亚威 ;

袁立超 .

中国专利 :CN119621522A ,2025-03-14

[3]

参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张国辉 ;

葛国周 .

中国专利 :CN114357388A ,2022-04-15

[4]

参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P].

尹越 ;

刘昱泽 ;

王哲 .

中国专利 :CN117369866A ,2024-01-09

[5]

接口参数校验方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

程凯凌 .

中国专利 :CN112579055A ,2021-03-30

[6]

电子元器件的参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P].

林玉虹 ;

施海昕 ;

秦国君 ;

刘云锋 .

中国专利 :CN110502384B ,2019-11-26

[7]

校验方法及装置、系统、可读存储介质 [P].

何飞 ;

赵国庆 ;

曾琳铖曦 ;

蒋宁 ;

吴海英 .

中国专利 :CN117493154A ,2024-02-02

[8]

参数校验方法及装置、存储介质、服务终端 [P].

吴学飞 ;

张璨 .

中国专利 :CN112650488A ,2021-04-13

[9]

参数校验方法及装置、存储介质、服务终端 [P].

吴学飞 ;

张璨 .

中国专利 :CN112650488B ,2024-10-22

[10]

接口参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙佳伟 .

中国专利 :CN112306879A ,2021-02-02

← 1 2 3 4 5 →