学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

电子元器件的参数校验方法、装置、设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910802804.6
申请日：
2019-08-28
公开(公告)号：
CN110502384B
公开(公告)日：
2019-11-26
发明(设计)人：
林玉虹 施海昕 秦国君 刘云锋
申请人：
申请人地址：
201612 上海市徐汇区漕河泾开发区松江高科技园莘砖公路258号32幢1101室
IPC主分类号：
G06F1122
IPC分类号：
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
薛娇
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-12-20 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20190828
2019-11-26 公开 公开
2020-06-02 授权 授权
共 50 条
[1]
参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张亚威 ;
袁立超 .
中国专利 :CN119621522A ,2025-03-14
[2]
参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张国辉 ;
葛国周 .
中国专利 :CN114357388A ,2022-04-15
[3]
参数质量校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
叶家豪 ;
陈华佳 ;
邸帅 ;
卢道和 .
中国专利 :CN110825634A ,2020-02-21
[4]
参数校验方法、系统、装置及存储介质 [P]. 
王春春 .
中国专利 :CN113608913A ,2021-11-05
[5]
接口参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孙佳伟 .
中国专利 :CN112306879A ,2021-02-02
[6]
参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
尹越 ;
刘昱泽 ;
王哲 .
中国专利 :CN117369866A ,2024-01-09
[7]
交易校验方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李承宇 ;
张天佑 ;
郝学武 .
中国专利 :CN109087101B ,2018-12-25
[8]
参数校验方法、校验模板的生成方法及存储介质 [P]. 
付敏 ;
申晓波 ;
龚成龙 .
中国专利 :CN114461302A ,2022-05-10
[9]
参数校验方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王玮犀 .
中国专利 :CN118779210A ,2024-10-15
[10]
参数校验方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
邱才生 ;
仲雪莲 .
中国专利 :CN119046080A ,2024-11-29
12345