一种温度冲击试验箱

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011427747.7

申请日：

2020-12-07

公开(公告)号：

CN112675928A

公开(公告)日：

2021-04-20

发明(设计)人：

许斌张杰方亚何必波

申请人：

申请人地址：

401120 重庆市渝北区双凤桥街道长翔支路23号6幢

IPC主分类号：

B01L100

IPC分类号：

B01L700 G01N302 G01N360

代理机构：

重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221

代理人：

林慰敏

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-20	公开	公开
2021-05-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B01L 1/00 申请日:20201207
2021-09-14	授权	授权

共 50 条

[1]

一种温度冲击试验箱 [P].

薛泽明 .

中国专利 :CN207929224U ,2018-10-02

[2]

一种温度冲击试验箱 [P].

龙光辉 ;

张平 .

中国专利 :CN111896414A ,2020-11-06

[3]

温度冲击试验箱 [P].

盛叶 ;

吕劲松 ;

戈达 .

中国专利 :CN217060016U ,2022-07-26

[4]

一种温度冲击试验箱 [P].

刘新生 ;

张如礼 .

中国专利 :CN206399869U ,2017-08-11

[5]

一种温度冲击试验箱 [P].

沈家亮 ;

陈洪军 ;

傅茂斌 .

中国专利 :CN212092314U ,2020-12-08

[6]

一种大型温度冲击试验箱 [P].

万先锋 ;

蔡文城 ;

胡兰 ;

窦健波 .

中国专利 :CN216669682U ,2022-06-03

[7]

一种两箱式温度冲击试验箱 [P].

许斌 ;

张杰 ;

方亚 ;

谢绍军 ;

汪洋 ;

蓝伟 .

中国专利 :CN112858148B ,2021-05-28

[8]

一种电子芯片温度冲击试验箱 [P].

靳斌鹏 .

中国专利 :CN212693516U ,2021-03-12

[9]

温度冲击试验箱 [P].

叶嘉俊 ;

徐铭利 ;

郑昆 ;

区柱锋 ;

黄嘉富 .

中国专利 :CN215414863U ,2022-01-04

[10]

温度冲击试验箱 [P].

龙德中 ;

彭明友 .

中国专利 :CN203494527U ,2014-03-26

← 1 2 3 4 5 →