一种电子芯片温度冲击试验箱

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020966614.6

申请日：

2020-06-01

公开(公告)号：

CN212693516U

公开(公告)日：

2021-03-12

发明(设计)人：

靳斌鹏

申请人：

申请人地址：

264010 山东省烟台市经济技术开发区珠江路32号3号109室

IPC主分类号：

G01N360

IPC分类号：

G01N304 G01R3128 G01R104

代理机构：

合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126

代理人：

赵荣

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子芯片温度冲击试验箱 [P].

彭明浪 ;

彭明波 ;

董浩 .

中国专利 :CN209486210U ,2019-10-11

[2]

一种温度冲击试验箱 [P].

薛泽明 .

中国专利 :CN207929224U ,2018-10-02

[3]

一种温度冲击试验箱 [P].

刘新生 ;

张如礼 .

中国专利 :CN206399869U ,2017-08-11

[4]

温度冲击试验箱 [P].

盛叶 ;

吕劲松 ;

戈达 .

中国专利 :CN217060016U ,2022-07-26

[5]

一种大型温度冲击试验箱 [P].

万先锋 ;

蔡文城 ;

胡兰 ;

窦健波 .

中国专利 :CN216669682U ,2022-06-03

[6]

一种温度冲击试验箱 [P].

许斌 ;

张杰 ;

方亚 ;

何必波 .

中国专利 :CN112675928A ,2021-04-20

[7]

一种温度冲击试验箱 [P].

沈家亮 ;

陈洪军 ;

傅茂斌 .

中国专利 :CN212092314U ,2020-12-08

[8]

一种温度冲击试验箱 [P].

龙光辉 ;

张平 .

中国专利 :CN111896414A ,2020-11-06

[9]

温度冲击试验箱 [P].

叶嘉俊 ;

徐铭利 ;

郑昆 ;

区柱锋 ;

黄嘉富 .

中国专利 :CN215414863U ,2022-01-04

[10]

温度冲击试验箱 [P].

龙德中 ;

彭明友 .

中国专利 :CN203494527U ,2014-03-26

← 1 2 3 4 5 →