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一种电子芯片温度冲击试验箱
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201920000588.9
申请日：
2019-01-02
公开(公告)号：
CN209486210U
公开(公告)日：
2019-10-11
发明(设计)人：
彭明浪
彭明波
董浩
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城02栋111室
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G01N1700
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-10-11 | 授权 | 授权 |