便携式中文界面数字集成电路功能测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220251340.8

申请日：

2012-05-31

公开(公告)号：

CN202583410U

公开(公告)日：

2012-12-05

发明(设计)人：

金建辉卢诚

申请人：

申请人地址：

650093 云南省昆明市五华区学府路253号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101671101124 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2012202513408 申请日:20120531 授权公告日:20121205 终止日期:20150531
2012-12-05	授权	授权

共 50 条

[1]

便携式数字集成电路测试仪 [P].

韦运碧 ;

蒋伟 ;

程小会 ;

刘捷 ;

黄河 ;

蒙善生 .

中国专利 :CN212965289U ,2021-04-13

[2]

手持数字集成电路参数测试仪 [P].

于维佳 ;

莫振栋 .

中国专利 :CN103576078A ,2014-02-12

[3]

手持数字集成电路参数测试仪 [P].

于维佳 ;

莫振栋 .

中国专利 :CN203587757U ,2014-05-07

[4]

单片机数字集成电路测试仪 [P].

朱梅 ;

黄宇星 .

中国专利 :CN2153807Y ,1994-01-19

[5]

微机化数字集成电路功能测试仪 [P].

刘必虎 ;

吴迎潮 .

中国专利 :CN2043763U ,1989-08-30

[6]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

朱二锋 ;

刘引 ;

党华 ;

侯守峰 ;

邬宝寅 .

中国专利 :CN201926737U ,2011-08-10

[7]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

许弋 .

中国专利 :CN213689861U ,2021-07-13

[8]

数字集成电路多值逻辑测试仪 [P].

丁巨光 .

中国专利 :CN2135786Y ,1993-06-09

[9]

一种数字集成电路功能测试仪 [P].

詹惠琴 ;

周建 ;

古军 ;

徐林 ;

金鸣 ;

郝叶军 ;

王寅 ;

李旭刚 .

中国专利 :CN102353891A ,2012-02-15

[10]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

朱二锋 ;

刘引 ;

党华 ;

侯守峰 ;

邬宝寅 .

中国专利 :CN102478628A ,2012-05-30

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