带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910480018.9
申请日
2019-06-04
公开(公告)号
CN110571116A
公开(公告)日
2019-12-13
发明(设计)人
东矢高尚 森田博文 小笠原宗博
申请人
申请人地址
日本神奈川县
IPC主分类号
H01J37145
IPC分类号
H01J37317
代理机构
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
夏斌
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置 [P]. 
松井秀树 .
中国专利 :CN111624857A ,2020-09-04
[2]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置 [P]. 
野村春之 ;
中山田宪昭 .
中国专利 :CN114787958A ,2022-07-22
[3]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置 [P]. 
安井健一 ;
加藤靖雄 .
中国专利 :CN111913362B ,2020-11-10
[4]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置 [P]. 
松井秀树 .
日本专利 :CN111624857B ,2024-04-02
[5]
带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法 [P]. 
中山贵仁 .
中国专利 :CN109698106B ,2019-04-30
[6]
带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法 [P]. 
安田淳平 ;
涌井直人 .
日本专利 :CN115113489B ,2025-04-11
[7]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置 [P]. 
安井健一 .
中国专利 :CN111913361B ,2020-11-10
[8]
带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法 [P]. 
山田拓 .
中国专利 :CN112020761A ,2020-12-01
[9]
带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法 [P]. 
安田淳平 ;
涌井直人 .
中国专利 :CN115113489A ,2022-09-27
[10]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置 [P]. 
野村春之 ;
中山贵仁 .
日本专利 :CN114981923B ,2025-08-26