一种用于片式电容交流参数测试的探针装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202120436792.2
申请日
2021-03-01
公开(公告)号
CN215066788U
公开(公告)日
2021-12-07
发明(设计)人
熊焰明 杨晔
申请人
申请人地址
214000 江苏省无锡市新区泰山路2号国际科技合作园C楼E-4座
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3100
代理机构
南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350
代理人
王俊
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
片式电容参数测试夹具 [P]. 
程革胜 ;
羊恺 ;
杨诗静 ;
朱大新 ;
胡梅 .
中国专利 :CN207181461U ,2018-04-03
[2]
一种片式电容高频参数测试夹具 [P]. 
何川 .
中国专利 :CN204679531U ,2015-09-30
[3]
交流耦合参数测试探针 [P]. 
C·A·米勒 ;
A·N·斯珀克 ;
B·N·埃尔德里奇 .
中国专利 :CN101495878A ,2009-07-29
[4]
一种片式电容双面绝缘测试装置 [P]. 
刘荣 ;
蒋汉伟 ;
陈潇煜 ;
郑博 .
中国专利 :CN223436044U ,2025-10-14
[5]
一种用于吸附片式电阻或片式电容的装置 [P]. 
唐以冠 ;
梁建银 ;
练洁兰 .
中国专利 :CN209411254U ,2019-09-20
[6]
一种片式弹簧测试探针 [P]. 
龚坚 ;
魏强 .
中国专利 :CN223051393U ,2025-07-01
[7]
一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法 [P]. 
罗伟 ;
窦国珍 ;
肖冬 ;
申敏 .
中国专利 :CN113406431A ,2021-09-17
[8]
一种用于片式电解电容的测试装置 [P]. 
杨晔 .
中国专利 :CN211318635U ,2020-08-21
[9]
一种探针测试装置 [P]. 
周公庆 ;
马列 ;
刘宗刚 ;
马志强 ;
袁桃生 ;
谈仕祥 ;
侯锟 ;
苟小康 .
中国专利 :CN216670078U ,2022-06-03
[10]
一种用于晶圆测试的探针组件及探针测试装置 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
莫庆伟 .
中国专利 :CN221860535U ,2024-10-18