集成电路芯片测试机的验证板卡

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201020233589.7
申请日
2010-06-23
公开(公告)号
CN201773170U
公开(公告)日
2011-03-23
发明(设计)人
刘华 张超 赵春莲
申请人
申请人地址
300384 天津市南开区华苑产业园区海泰绿色产业基地M8座3门3层
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
天津盛理知识产权代理有限公司 12209
代理人
王来佳
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路芯片测试机 [P]. 
侯海平 .
中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15
[2]
新型集成电路芯片测试机 [P]. 
刘华 ;
赵春莲 ;
姚琳 ;
张超 ;
华锡培 .
中国专利 :CN201434900Y ,2010-03-31
[3]
多功能集成电路芯片测试机 [P]. 
刘华 ;
赵春莲 ;
姚琳 ;
张超 ;
华锡培 .
中国专利 :CN101587167A ,2009-11-25
[4]
一种集成电路芯片测试机 [P]. 
柯武生 ;
翁国权 ;
王汉波 ;
郭军 .
中国专利 :CN215641679U ,2022-01-25
[5]
具有防转动连杆的集成电路芯片测试机 [P]. 
V·兰达 .
中国专利 :CN106463863A ,2017-02-22
[6]
一种集成电路芯片测试机 [P]. 
姚金标 .
中国专利 :CN218167857U ,2022-12-30
[7]
一种多功能集成电路芯片测试机 [P]. 
何青海 .
中国专利 :CN220913288U ,2024-05-07
[8]
一种多功能集成电路芯片测试机 [P]. 
韦雷雷 .
中国专利 :CN222506491U ,2025-02-18
[9]
集成电路测试机 [P]. 
杨再林 ;
韦敏荣 ;
孔晓琳 ;
王英广 ;
李安平 .
中国专利 :CN306809249S ,2021-09-07
[10]
一种性能稳定的集成电路芯片测试机 [P]. 
蔡逸宇 ;
林泽滨 .
中国专利 :CN218497079U ,2023-02-17