主板发光二极管检测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610063337.2

申请日：

2006-10-27

公开(公告)号：

CN101169340B

公开(公告)日：

2008-04-30

发明(设计)人：

吴冠霖陈维沅

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G01J350

IPC分类号：

G01J142 G01R3126 G01R3102 G06F1122

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-16	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101637737089 IPC(主分类):G01J 3/50 专利号:ZL2006100633372 申请日:20061027 授权公告日:20101208 终止日期:20141027
2008-04-30	公开	公开
2009-07-22	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-12-08	授权	授权

共 50 条

[1]

发光二极管的检测装置及检测方法 [P].

宋玉华 ;

刘昭宇 ;

张威 .

中国专利 :CN118655436A ,2024-09-17

[2]

用于发光二极管晶片的检测装置及发光二极管 [P].

卢军 ;

熊永福 ;

邢沈立 .

中国专利 :CN119325314B ,2025-07-08

[3]

发光二极管检测装置和方法 [P].

薛方 ;

宁荣彬 .

中国专利 :CN113074914A ,2021-07-06

[4]

发光二极管检测装置 [P].

秦世全 .

中国专利 :CN213934094U ,2021-08-10

[5]

发光二极管检测装置 [P].

周哲 .

中国专利 :CN201540340U ,2010-08-04

[6]

发光二极管检测装置 [P].

张荣斌 .

中国专利 :CN104515943A ,2015-04-15

[7]

发光二极管检测装置 [P].

徐诺维 .

中国专利 :CN110833994A ,2020-02-25

[8]

发光二极管检测装置 [P].

王向阳 ;

冯建鑫 .

中国专利 :CN119456471A ,2025-02-18

[9]

发光二极管检测装置 [P].

张荣斌 .

中国专利 :CN203551733U ,2014-04-16

[10]

主板发光二极管测试装置及方法 [P].

吴冠霖 ;

陈维沅 .

中国专利 :CN101187684B ,2008-05-28

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